- मुख पृष्ठ
- अनुसंधान क्षेत्र
- ऊर्जा संचयन भौतिकी
- पदार्थ भौतिकी तथा अभियांत्रिकी
- रेडियो एवं वायुमंडलीय विज्ञान
- समय तथा आवृत्ति मानक
- शीर्ष स्तरीय मानक एवं औधोगिक मापिकी
- शीर्ष स्तरीय मानक एवं औधोगिक मापिकी
- द्रव्यमान मानक
- विमा मानक
- तापमान तथा आर्द्रता मानक
- प्रकाशिक विकिरण मानक
- बल तथा कठोरता मानक
- दाब तथा निर्वात मानक
- ध्वानिक पराश्रव्य तथा कंपन मानक और इलेक्ट्राॅनिक तथा यंत्रीकरण सेल
- तरल प्रवाह मापन मानक
- निम्न आवृत्ति तथा उच्च आवृत्ति प्रतिबाधा और डी सी मानक
- निम्न आवृत्ति तथा उच्च आवृत्ति वोल्टता, धारा तथा माइक्रोवेव मानक
- प्रत्यावर्ती (ए सी) उच्च वोल्टेज तथा उच्च धारा मानक
- ए सी शक्ति तथा ऊर्जा मानक
- क्वांटम परिघटना एवं अनुप्रयोग
- तकनीकी हस्तांतरण
- संस्थागत रिपोजिटरी
- वाणिज्यिक सेवाएं
- शैक्षणिक कार्यक्रम
- शिक्षित और अन्वेषण
- अंषांकन एवं परीक्षण केन्द्र (सी एफ सी टी)
- कॅरियर
- सूचना का अधिकार
नैनो स्तरीय मापन
नेनो पैमाने पर मापन
इस अनुभाग में एसआई इकाई मीटर साकार करने के, नैनो पैमाने पर मापन के और मानकीकरण के लिए सुविधाएं स्थापित करने के लिए काम किया जाता है |
गतिविधियां: - एसआई इकाई मीटर साकार करन, मानक 633nm, हीलियम नीयन लेजर जिनकी आवृत्ति को आयोडीन की आवृत्ति के साथ स्थिर किया जाता है
|
![]() |
सुविधाएं: - -प्राथमिक मानक : 633nm, हीलियम नीयन लेजर जिनकी आवृत्ति को आयोडीन की आवृत्ति के साथ स्थिर किया जाता है - ऑप्टिकल Profiler Wyko NT9800
| ![]() |
व्यक्ति: | |||
प्रधान वैज्ञानिक: डॉ. रीना शर्माrina@nplindia.org फोनः +91-11-4560927 |
वैज्ञानिक: डॉ. विजय कुमार Toutamtoutamvk@nplindia.org फोनः +91-11-45608359 |
जूनियर वैज्ञानिक: सुश्री गिरिजा Moonamoonag@nplindia.org फोनः +91-11-45609275 |